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    分光密度仪

    分光密度仪CM-2600D

    >>产品简介

    CM-2600D分光密度仪可同时测定SCI(包含镜面反射光)包(消除镜面反射光)技术先进的数字化光泽控制。 仅用1.5秒即可同时完成SCI与SCE的测定,并通过液晶面板显示SCI/SCE数据,再也不必进行频繁的机械式的SCI/SCE切换,不仅提高了作业效率,避免了测定时的位置偏移而得到准确、稳定的测定数据。

    >>技术参数

    1.照明 / 受光光学系统:d/8 (扩散照明,8°方向受光) SCI/SCE同时测定 (无机械切换)

    (根据DIN 5033 第七部份、JIS Z 8722的条件C、ISO 7724/1、CIE No. 15、ASTM E1164)

    2.积分球尺寸:Ø52mm

    3.分光方法:平面回折光栅

    4.测定波长范围:360nm至740nm

    5.测定波长:间隔10nm

    6.半值宽度:约10nm

    7.反射率测定范围 0至175%、显示分解能力;0.01%

    8.测定用光源:脉冲氙弧灯3个

    9.测定时间:约1.5秒 (荧光测定时:约2秒)

    10.最小可测间隔SCI/SCE测定时间3秒 (荧光测定时:约4秒)

    11.测定直径 / 照明直径MAV:Ø8mm / Ø11mm

    12.观测光源:A、C、D50、D65、F2、F6、F7、F8、F10、F11、F12 

    >>华测实力

    1、华测经过多年发展,在纸品、环境、力学、电池、箱包类等检测设备研发和生产中拥有非常成熟的技术,并且在环境/纸品/力学类等多个领域中获国家专利,产品质量有保障。

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